簡要描述:研禾科技FETS-2000高溫鐵電測試儀可用于高溫環(huán)境下材料鐵電性能測試中測試信號的輸出和反饋信號的收集,可進(jìn)行電滯回線測試、漏電流測試、疲勞測試、電擊穿強(qiáng)度測試、小信號電容測試、PUND測試、印痕測試、保持力測試等鐵電性能的檢測,另外還有壓電測試、介電測試、電阻率測試、電容充放電測試需配合另外升級選件實(shí)現(xiàn)。
產(chǎn)品分類
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品牌 | 其他品牌 | 價(jià)格區(qū)間 | 10萬-20萬 |
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產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 化工,地礦,能源,電子,航天 |
頻率范圍 | 0.001Hz~5kHz/10kHz/50kHz/100kHz/500kHz | 最大電荷解析度 | 1mC/10mC |
漏電流范圍 | 1pA~20mA | 溫度范圍 | RT~200℃ |
FETS-2000是一款擴(kuò)展靈活的高溫鐵電測試儀,也是一款可替代德國aixACCT公司生產(chǎn)的TF Analyzer 2000鐵電分析儀的國產(chǎn)鐵電材料性能測試設(shè)備,可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領(lǐng)域的研究。
鐵電參數(shù)測試主要性能指標(biāo):
a. 外接5 kV高壓放大器(可擴(kuò)展至10 kV)(國產(chǎn)、進(jìn)口均適用);
b. 動態(tài)電滯回線測試頻率范圍0.01 Hz ~ 5kHz/10kHz/50kHz/100kHz/500kHz;
c. 最大電荷解析度:10 mC(可擴(kuò)展);
d. 疲勞測試頻率300 kHz(振幅10 Vpp,負(fù)載電容1 nF);
e. 漏電流測量范圍 1 pA ~ 20 mA(可擴(kuò)展),分辨率0.1 pA;
f. 配有高壓擊穿保護(hù)模塊;
g.溫度范圍:RT~200℃。
本測試系統(tǒng)由主控器、高壓放大器、變溫綜合測試平臺(配鐵電測試盒)或高低溫探針臺(配高壓探針)、計(jì)算機(jī)及系統(tǒng)軟件部分組成。主控器集成了可編程波形發(fā)生器、內(nèi)置驅(qū)動電壓、電荷積分器、可編程放大器、模數(shù)轉(zhuǎn)換器、通訊總線等功能,主控器提供擴(kuò)展外置高壓放大器接口,可擴(kuò)展±5 kV或±10 kV的高壓放大器。系統(tǒng)軟件包括可視化數(shù)據(jù)采集和管理功能,測試時(shí),無需改變測試樣品的連接,即可實(shí)現(xiàn)高溫環(huán)境下的滯回,脈沖,漏電,IV等性能測試。
本測試系統(tǒng)鐵電性能測試采用改進(jìn)的Sawyer- Tower測量方法,與傳統(tǒng)的Sawyer- Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度,減少了對測試的影響環(huán)節(jié),容易定標(biāo)和校準(zhǔn),并且能實(shí)現(xiàn)較高的測量準(zhǔn)確度。
高溫鐵電測試儀測試功能:
動態(tài)電滯回線DHM
靜態(tài)電滯回線SHM
I-V特性
脈沖PUND
疲勞Fatigue
電擊穿強(qiáng)度BDM
漏電流LM
電流-偏壓
保持力RM
印跡印痕IM
變溫測試THM。
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