簡(jiǎn)要描述:PCTS-3000中低溫?zé)後岆娤禂?shù)測(cè)試系統(tǒng)采用直接測(cè)量法測(cè)量熱釋電材料在均勻升溫過(guò)程中釋放出來(lái)的熱釋電電流,計(jì)算得到本征熱釋電系數(shù),適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、單晶、陶瓷材料等的測(cè)試。
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品牌 | 其他品牌 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,化工,地礦,能源,電子 |
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測(cè)量范圍 | 0.1 pA ~ 1 μA | 測(cè)量精度 | 10 fA |
溫度范圍 | -160 ~ 260 ℃ | 控溫精度 | ±0.1 ℃ |
PCTS-3000中低溫?zé)後岆娤禂?shù)測(cè)試系統(tǒng)采用直接測(cè)量法測(cè)量熱釋電材料在均勻升溫過(guò)程中釋放出來(lái)的熱釋電電流,計(jì)算得到本征熱釋電系數(shù),適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、單晶、陶瓷材料等的測(cè)試。
熱釋電系數(shù)測(cè)試主要性能指標(biāo):
a. 測(cè)量范圍:0.1 pA ~ 1 μA
b. 測(cè)量精度:10 fA
c. 樣品類型:?jiǎn)尉?、塊體、膜
d. 最大樣品厚度:10 mm
e. 最大樣品尺寸:Φ30 mm
f. 樣品形狀:不限
g. 溫度范圍:-160℃ ~ 260 ℃
h. 控溫精度:±0.1 ℃
i. 升降溫速率:1~10 ℃/min
j. 具有控溫故障診斷監(jiān)控、超溫自動(dòng)斷電保護(hù)功能
本測(cè)試系統(tǒng)由主控器、高低溫測(cè)試箱(配熱釋電測(cè)試夾具)、計(jì)算機(jī)及系統(tǒng)軟件部分組成。主控器實(shí)現(xiàn)收集熱釋電電流、與PC通訊等功能,系統(tǒng)軟件包括可視化數(shù)據(jù)采集和管理功能,測(cè)試時(shí),按要求安裝樣片后,一鍵啟動(dòng)熱釋電系數(shù)測(cè)量,測(cè)量過(guò)程曲線和測(cè)試結(jié)果自動(dòng)保存。
配置的高低溫測(cè)試箱,以液氮為制冷劑,以電阻絲為加熱元件,采用T型熱電偶和可編程溫度控制器。爐膛采用全金屬爐膛,高溫可達(dá)260℃,低溫可達(dá)-160℃,控溫精度±0.1℃;同時(shí)設(shè)有通氣接口,可用于惰性氣體下使用。具有溫度場(chǎng)均衡、控溫準(zhǔn)、升降溫速率快等優(yōu)點(diǎn)。
先后有華中科技大學(xué)、四川大學(xué)、南京理工大學(xué)、上海師范大學(xué)、河北大學(xué)、湖北大學(xué)、江西科技學(xué)院等單位選購(gòu)PCTS-3000中低溫?zé)後岆娤禂?shù)測(cè)試系統(tǒng),已助力客戶在ACS AMI、J AM CERAM SOC、ACTA MATER等國(guó)內(nèi)外*期刊發(fā)表優(yōu)秀論文,產(chǎn)品詳細(xì)資料請(qǐng)咨詢我司。
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