簡要描述:FETS-2000b 薄膜鐵電性能綜合測試儀具有動態(tài)電滯回線(DHM)、I-V特性、脈沖(PUND)、靜態(tài)電滯回線(SHM)、疲勞(FM)、漏電流(LM)、電流-偏壓、保持力(RM)、印跡(IM)的測試功能.,可廣泛地應用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領域的研究。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細介紹
品牌 | 其他品牌 | 應用領域 | 化工,能源,電子,航天,綜合 |
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動態(tài)電滯回線測試頻率 | 0.001Hz~5kHz/10kHz/50kHz/100kHz/500kHz | 內(nèi)置激勵 | ±10/30/100/200/500VAC(可定制) |
測試功能 | 動態(tài)電滯回線(DHM);I-V特性;脈沖(PUND);靜態(tài)電滯回線(SHM);疲勞(FM);漏電流 | 最大電荷解析度 | 1mC(可定制) |
漏電流測量范圍 | 1 pA ~ 20 mA | 測量精度 | 10 fA |
配件 | 與探針臺配套使用 |
FETS-2000b薄膜鐵電性能綜合測試儀具有動態(tài)電滯回線(DHM)、I-V特性、脈沖(PUND)、靜態(tài)電滯回線(SHM)、疲勞(FM)、漏電流(LM)、電流-偏壓、保持力(RM)、印跡(IM)的測試功能.,可廣泛地應用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲器等領域的研究。
FETS-2000b薄膜鐵電性能綜合測試儀與探針臺配套使用,可實現(xiàn)薄膜的鐵電性能測試。動態(tài)電滯回線測試頻率和激勵測試電源,用戶可根據(jù)需要進行選擇,動態(tài)電滯回線測試頻率范圍為1mHz~500kHz可選,激勵測試電源±10/30/100/200/500VAC可選,也可根據(jù)用戶需要進行定制。
本測試系統(tǒng)由主控器、探針臺、計算機及系統(tǒng)軟件部分組成。主控器集成了內(nèi)置激勵測試電源、電荷積分器、可編程放大器、模數(shù)轉換器、通訊總線等功能,系統(tǒng)軟件包括可視化數(shù)據(jù)采集和管理功能,測試時,無需改變測試樣品的連接,即可實現(xiàn)滯回,脈沖,漏電,IV等性能測試。
本測試系統(tǒng)鐵電性能測試采用改進的Sawyer- Tower測量方法,與傳統(tǒng)的Sawyer- Tower模式相比,此電路取消了外接電容,可減小寄生元件的影響。此電路的測試精度僅取決于積分器積分電容的精度,減少了對測試的影響環(huán)節(jié),容易定標和校準,并且能實現(xiàn)較高的測量準確度。
本系統(tǒng)提供外接高壓放大器的接口,對于需要做高壓測試、高壓漏電流測試 的用戶,可直接擴展此功能。
用戶選擇此款設備,需向廠家提供測試頻率、激勵測試電壓等要求。
測試功能:
動態(tài)電滯回線(DHM)
I-V特性
脈沖(PUND)
靜態(tài)電滯回線(SHM)
疲勞(FM)
漏電流(LM)
電流-偏壓
保持力(RM)
印跡(IM)
可擴展部件:
探針臺
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